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欠陥密度の算出

0.4eVもの長波長まで測定可
干渉のない全自動測定

薄膜太陽電池材料の
　吸収係数測定に最適です

ＯＫＬ−CPM・PDS‐５００型

一定光電流測定法(CPM:Constant photocurrent method)・光熱偏向分光法(PDS:Photothermal Deflection Spectroscopy)を使い、サブバンドギャップ(sub band gap) 光吸収係数(optical absorption coefficient)測定ができます。

欠陥密度(Defect density)の算出ができますので、太陽電池用薄膜の性能向上や開発に応用できます。

特長

• CPM測定に弊社独自手法を用いて、干渉を抑え正確な欠陥密度の算出が可能
• PDSは長波長0.4[eV]まで測定可能
• CPMとPDS一体型でコンパクト＆経済的
• 測定は全自動で手間がかかりません

詳細

弊社のＣＰＭ・ＰＤＳ併用測定装置型式ＯＫＬ−ＣＰＭ・ＰＤＳ−５００は１台の装置でＣＰＭおよびＰＤＳの各々の測定ができるようにコンパクトにまとめられております。 弊社のＣＰＭ測定の特徴は、透過光測定方式を用い、膜の干渉の影響を除く方式を採用している点にあります。

このため、正確な欠陥密度の算出可能となっております。 また、ＰＤＳでは長波長域での測定ができるように、可視光用とは別に、赤外分光用 グレーティングを用意しております。測定は振動を嫌いますのでサンプルセルの載る テーブルは除振機能付となっております。 測定は全てコンピュータコントロール自動測定となっております。